＜設計・製造ソリューション展＞

#　2001年7月7日# ハッピー #
ラピッドプロトは昨年同様、奥に横一列に多数並んでいましたが、昨年、十分驚いたので今年は特に印象無し。
簡単に試作するだけでなく、実験も出来るようになればＣＡＥの精度も上げられるでしょうね。

形状測定は、非接触式、接触式と散在していましたが、一通り、測定原理が把握できて良かったです。
リバースエンジニアリングなどで、実物から形状データを取ってＦＥＭ解析をすることも今後増えてくるのでしょうね。
3Ｄデジタイザー、3Ｄスキャナーなどと言ったレーザー式高速測定機がいくつか展示されていました。
ＣＴスキャンで断層写真を撮って3Ｄ解析モデルを作成する事例もありましたがお金が掛かりそう。
一番あり得るのが、ライバル車の製品（当然ＣＡＤデータはない）の解析でしょうか。
(編集担当：Happy 2001/12/15)